1. 概況

環(huán)境試驗(yàn)是為了重現(xiàn)零件、部件以及整個(gè)系統(tǒng)將經(jīng)受的環(huán)境條件或作出加速的條件，并在此條件下調(diào)查被試品的特性、確認(rèn)耐用性而進(jìn)行的試驗(yàn)。
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國(guó)民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展、環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多，被試品所遇到的環(huán)境條件也極其多樣復(fù)雜，要定出一種同樣的環(huán)境試驗(yàn)方法來滿足所有的試驗(yàn)?zāi)康氖菢O其困難的。
為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實(shí)施，需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備。而要達(dá)到這一點(diǎn)，首先需要有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備的尺度，即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)，為了定量地體現(xiàn)可靠性，有必要規(guī)定試驗(yàn)的環(huán)境條件和方法，制定出無(wú)論在什么地方都能用相同基準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期，以IEC68-1，2，3為基調(diào)等效采用。
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)             基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
GB10586 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件   GB2426.3試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法 
GB2423.4試驗(yàn)Dd交變濕熱試驗(yàn)方法
GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   GB2423.1 試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法
GB10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB2423.22試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件   GB2423.2  試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法
   基本參數(shù)檢定方法采用GB5170
GB/T5170電工電子產(chǎn)品試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法(1996修訂版明確本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗(yàn))
應(yīng)注意本公司產(chǎn)品是試驗(yàn)箱而不是試驗(yàn)方法,所以說本公司產(chǎn)品符合GB10586，GB10589，GB11158等試驗(yàn)箱技術(shù)條件，可以用來做GB2423.1,2,3,4或GB2423.22中Nb的試驗(yàn).

1. 試驗(yàn)箱的使用條件

   國(guó)標(biāo)上規(guī)定了試驗(yàn)箱的使用環(huán)境條件及負(fù)載要求，因此銷售人員必須在銷售產(chǎn)品時(shí)說明。

1. 環(huán)境條件

溫度：15℃~35℃
相對(duì)濕度：不大于85%RH；
大氣壓強(qiáng)：86Kpa~106Kpa（1350m）以下）；
周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)‘
無(wú)陽(yáng)光直射，無(wú)熱源直接輻射；周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動(dòng)時(shí)，不可直接吹到箱體上；
周圍無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)；
周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)；

• 供電條件

電壓：220±22V、380±38V；
頻率：50±0.5Hz;

• 供水條件

冷卻水：可滿足下列條件的自來水或循環(huán)水。
水溫：不高于30℃；
水壓：0.1~0.3Mpa;
加濕用水當(dāng)用水與空氣直接接觸的方法加濕空氣時(shí)，水的電阻率不應(yīng)低于500Ωm

1. 負(fù)載條件

試驗(yàn)負(fù)載可先用電工、電子及其他產(chǎn)品，零部件及絕緣材料等；
試驗(yàn)負(fù)載的總質(zhì)量按每立方米工作室容放置50~80Kg試驗(yàn)樣品計(jì)算；
試驗(yàn)負(fù)載的總體積應(yīng)不大于工作室容積的1/5；
在垂直于主導(dǎo)風(fēng)向的任意截面上，試驗(yàn)負(fù)載面積之和不大于該處工作室截面積的1/3；
三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（試驗(yàn)箱技術(shù)條件）
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)有九項(xiàng)
GB10586-89    濕熱試驗(yàn)箱          技術(shù)條件
GB10587-89    鹽霧試驗(yàn)箱          技術(shù)條件
GB10588-89     長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱子        技術(shù)條件         
GB10589-89    低溫試驗(yàn)箱          技術(shù)條件
GB10590-89    低溫/低氣壓試驗(yàn)箱   技術(shù)條件 
GB10591-89    高溫/低氣壓試驗(yàn)箱   技術(shù)條件     
GB10592-89    高、代溫試驗(yàn)箱      技術(shù)條件
GB11158-89    高溫試驗(yàn)箱         技術(shù)條件
GB11159-89    低氣壓試驗(yàn)箱       技術(shù)條件
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
A、適用范圍
    在上述的九項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的所有廠家，對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)所對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)作為依據(jù)。
B、適應(yīng)性
   按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對(duì)應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求，按其檢驗(yàn)要求檢測(cè)合格的產(chǎn)品方可出廠。
C、操作性
   設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實(shí)施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時(shí)，該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠應(yīng)用較多。
D、修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處
九項(xiàng)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)、工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和要求，修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)已成為必須，現(xiàn)正在修訂。
3、GB10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
按使用性能分Ⅰ、Ⅱ兩類，其性能指標(biāo)見下列產(chǎn)品性能表。

類別 參數(shù) 指標(biāo)			Ⅰ	Ⅱ
調(diào)節(jié)范圍	溫度，℃		室溫±(10～60)	20～60
	相對(duì)濕度，%		環(huán)境濕度至100	80～100
溫度均勻度，℃			≤1
溫度波動(dòng)度，℃			±0.5
允許偏差		溫度，℃	±2.0		見14頁(yè)圖(試驗(yàn)Db)
		相對(duì)濕度，%	+2 -3
升溫速率, ℃/min			≤11)
降溫束率, ℃/min			-
風(fēng)速,m/s			≤1
交變能力			恒定		恒定、交變

注：1）Ⅰ類試驗(yàn)箱的升溫速率按每5min的平均值計(jì)算。
2）GB2423.4的圖2中，降溫階段的相對(duì)濕度分為，不小于95%和不小于85%兩種。
4、GB10589低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

1. 試驗(yàn)箱溫度等級(jí)如下：

+5，-5，-10，-25，-40，-55，-65℃。

• 溫度偏差不大于±3℃。
• 溫度均勻度不大于2℃。
• 溫度波動(dòng)度不大于±1℃

5、GB10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
A、溫度等級(jí)及偏差

1. 試驗(yàn)箱的高溫溫度等級(jí)為：

30，40，55，70，85，100，125，155，175，200℃。

1. 高溫溫度偏差不大于±2℃
2. 試驗(yàn)箱的低溫溫度等級(jí)為：

+5，-5，-10，-25，-40，-55，-65℃。

• 低溫溫度偏差不大于±3℃
• 試驗(yàn)箱在高溫及低溫時(shí)的溫度均勻度應(yīng)不大于2.0℃。
• 試驗(yàn)箱的溫度波動(dòng)度高溫時(shí)不大于min 0.5℃;低溫時(shí)不大于±1.0℃。

B、升溫及降溫速率
   在滿載條件下，每5min的平均升溫和降溫速率等級(jí)為：不大于1℃/min、1±0.2℃/ min、3 ±0.6℃/ min或5±1℃/ min

• GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
• 試驗(yàn)箱的溫度等級(jí)及充許偏差見下表：

                                                             ℃

溫度等級(jí)	30	40	55	70	85	100	125	155	175	200
允許偏差	±2

• 溫度均勻度不大于2℃；
• 溫度波動(dòng)度不大于±0.5℃。

四、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備）

1. GB/T5170.1 總則

術(shù)語(yǔ)
（1）標(biāo)稱值
當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值。
（2）試驗(yàn)設(shè)備容積
試驗(yàn)箱（室）內(nèi)壁所限定空間的實(shí)際容積，用m³表示。。
（3）工作空間
試驗(yàn)箱（室）中能將規(guī)定的試驗(yàn)條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。
（4）指示點(diǎn)
試驗(yàn)箱（室）工作空間狀態(tài)的點(diǎn)，一般取工作空間幾何中心點(diǎn)，也可根據(jù)具體情況選擇其它合適的點(diǎn)。
（5）試驗(yàn)箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)
試驗(yàn)箱（室）指示點(diǎn)的自身變化量達(dá)到設(shè)備本身性能指標(biāo)要求時(shí)的狀態(tài)。
（6）溫度波動(dòng)度
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量。
計(jì)算方法：試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點(diǎn)溫度在30min內(nèi)（每2min測(cè)試一次）每次測(cè)試中實(shí)測(cè)最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值，計(jì)算化工如下：

• t_f=±(t_fmax-t_fmin)/2
• Tf——溫度波動(dòng)度，℃；

t_{fmax——批示點(diǎn)在30}min內(nèi)的實(shí)測(cè)最高溫度，℃；
t_{fmin——指示點(diǎn)在30}min內(nèi)的實(shí)測(cè)最低溫度，℃。
式中：  溫度均勻度，℃；
指示點(diǎn)30min內(nèi)的實(shí)測(cè)最高溫度，℃；
指示30min內(nèi)的實(shí)測(cè)最低溫度，℃。
（7）溫度均勻度
試驗(yàn)箱（室）穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間在某一瞬時(shí)各測(cè)試點(diǎn)溫度之間的差值。
計(jì)算方法：試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)試點(diǎn)在30min內(nèi)（每20min測(cè)試一次）每次測(cè)試中實(shí)測(cè)最高溫度與最低溫度之差的算術(shù)平均值，計(jì)算公式如下：
△T_u=[Σ(T_jmax-T_jmin)]/15
式中：△T_u——溫度均勻度，℃；
T_jmax——各測(cè)試點(diǎn)在第j次測(cè)試中的實(shí)測(cè)最高溫度，℃；
T_jmin——各測(cè)試點(diǎn)在第j次測(cè)試中的實(shí)測(cè)最高溫度，℃。
（8）溫度偏差
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高溫度（Tmax）和最低溫度（Tmin）與標(biāo)稱溫度（T_N）的上下偏差，計(jì)算公式如下：
上偏差：    △T_max=T_max-T_N        下偏差：△T_min=T_min-T_N
（9）相對(duì)濕度偏差
  試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作窨各測(cè)試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)的實(shí)測(cè)最高相對(duì)濕度（Hmax）和最低相對(duì)濕度（Hmin）與標(biāo)稱相對(duì)濕度（H_N）的上下偏差，計(jì)算公式：
   上偏差：△H_max=H_max-H_N              下偏差：△H_min=H_min-H_N
（10）溫度變化速率
  試驗(yàn)箱（室）在規(guī)定的時(shí)間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，工作空間指示連續(xù)上升或連續(xù)下降時(shí)單位時(shí)間的變化量，用℃/min表示。

• 現(xiàn)行環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（共六項(xiàng)）

GB/T5170.2——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.8——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.9——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.10——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.11——1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

• GB/T5170.2溫度試驗(yàn)設(shè)備及GB/T5170.5濕熱試驗(yàn)設(shè)備

A、5170.2溫度試驗(yàn)設(shè)備測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置
(1)根據(jù)試驗(yàn)設(shè)備容積大小,將工作空間分為上、中、下三層，將一定數(shù)量的溫度、相對(duì)濕度和風(fēng)速傳感器放在其中規(guī)定的位置上，傳感器應(yīng)避免冷熱源的直接輻射。
溫度測(cè)量點(diǎn)用英文字母O、A、B，C，D，E，F(xiàn)，G，H，J，K，L，M，N，U表示。
相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)為一個(gè)，用字母O_h表示。
風(fēng)速測(cè)量點(diǎn)與溫度測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量與布放位置完全相同。
測(cè)量O和O_h為設(shè)備工作空間的幾何中心點(diǎn)，其他各測(cè)量點(diǎn)的位置與設(shè)備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長(zhǎng)的1/10。（遇有風(fēng)道時(shí)，是指與送風(fēng)口的距離），但最大距離不能大于500mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時(shí)，下層測(cè)量點(diǎn)可放在樣品架或樣品車上方10 mm處。
（2）設(shè)備容積小于或等于2m³時(shí)，溫度測(cè)量點(diǎn)9個(gè)，相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)為1個(gè)，布放位置如下圖所示：
上層               中層                 下層

K      L N      M

Oh/O

A      B D      C

                                      

門                門                      門
（3）設(shè)備容積大于2m³時(shí)，溫度測(cè)量點(diǎn)為15個(gè)，相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)為1個(gè)，布放位置如下圖所示：

A      B    E D      C

上層               中層                 下層

K      L     U N      M

F J  Oh/O  G     H

 
 

門                           門                    門 
（4）當(dāng)試驗(yàn)設(shè)備容積小于0.05 m³或大于50 m³時(shí),可適當(dāng)減少增加溫度測(cè)量點(diǎn).
(5)根據(jù)試驗(yàn)和檢定的需要,可在設(shè)備工作空間增加對(duì)疑點(diǎn)的測(cè)量.
(6)對(duì)于其他形狀的試驗(yàn)設(shè)備,測(cè)量點(diǎn)數(shù)量和位置可參照上述規(guī)定執(zhí)行.
B、5170.5濕熱試驗(yàn)設(shè)備測(cè)量數(shù)量及位置
（1）在被試設(shè)備工作室內(nèi)定出上、中、下三個(gè)水平層面（簡(jiǎn)稱上、中、下三層），上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10，中層通過工作室?guī)缀沃行狞c(diǎn)O，下層在底層樣品架上方10mm處。
（2）測(cè)量點(diǎn)分別位于上、中、下三層，如圖1和圖2。
溫度測(cè)量點(diǎn)用英文字母O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。
相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)用字母O_h、D_h、H_h、L_h表示。
風(fēng)速測(cè)量點(diǎn)與溫度測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量與布放位置完全相同。
（3）工作室容積不大于2m³時(shí)，溫度測(cè)量點(diǎn)為9個(gè)，相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)為3個(gè)，位置如下圖：
上層                 中層                 下層

K      L/Lh N      M

Oh/O

A      B D /Dh    C

                                                                                    

門                                  門                   門 
測(cè)量點(diǎn)O、O_h位于工作空間的幾何中心點(diǎn)，其他各測(cè)量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長(zhǎng)的1/10，但不小于50 mm。
（4）工作室容積大于2m³時(shí)，溫度測(cè)量點(diǎn)為15個(gè)，相對(duì)濕度測(cè)量點(diǎn)為4個(gè)，位置如圖：

A      B    E D /Dh    C

K      L/LH     U N      M

F J  Oh/O  G     Hh /H

上層               中層                 下層 
 

門                   門                  門
測(cè)量點(diǎn)E、O、O_h、U分別位于工作空間上、中、下層的幾何中心點(diǎn)，其他各測(cè)量點(diǎn)與試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長(zhǎng)的1/10，但不小于50 mm。
（5）若測(cè)出的工作空間的基本參數(shù)不符合GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.9、GB/T2423.16的要求且與測(cè)量點(diǎn)的位置有關(guān)時(shí)，可適當(dāng)放寬6.3和6.4規(guī)定的1/10的距離，但應(yīng)在檢定報(bào)告中予以記載。
（6）當(dāng)工作容積大于50 m³時(shí)，溫度測(cè)量點(diǎn)和相對(duì)濕度的數(shù)可適當(dāng)增加。

1. 方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個(gè)共同問題

A、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
    在六頂方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定頂目的確定，檢測(cè)儀器的選用，以及檢定條件、測(cè)試點(diǎn)數(shù)量、遠(yuǎn)見卓識(shí)點(diǎn)位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
B、適應(yīng)性
按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)。
C、操作性
本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗(yàn)設(shè)備和產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
5、貫徹執(zhí)行過程中的幾個(gè)注意點(diǎn)
A、各分標(biāo)準(zhǔn)使用時(shí)應(yīng)與總則一起使用。
B、對(duì)于復(fù)合試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用。
C、檢定條件
由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)下一致。

1. 負(fù)載要求

由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定保持一致。
五、GB2423.1，2，3，4及22Nb等試驗(yàn)方法的考核內(nèi)容（環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程）
1、GB2423.1   試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法
僅限于用來考核或確定電工，電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。
試驗(yàn)溫度+5℃~-65℃；
允許偏差范圍±3℃；
持續(xù)時(shí)間2，16，72，96h;
2、GB2423.2   試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法
   僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適應(yīng)性而不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品在溫度變化期間的耐抗性和工作能力。
試驗(yàn)溫度   +30℃～＋200℃；
允許偏差   ±2℃；
持續(xù)時(shí)間   2，16，72。96h；
3、GB2423.3   試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法
適用于確定電工、電子產(chǎn)品元件材料等在恒定濕條件下使用貯存的適應(yīng)性。
試驗(yàn)條件  40℃±2℃；93%RH₃⁺²%
持續(xù)時(shí)間   2，4，10，21，56d；
4、GB2423.4     試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)方法
   適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適用性。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)從以下（）選取嚴(yán)酷等級(jí)。
 A、高溫溫度：40℃
試驗(yàn)周期：2，6，12，21，56d;
B、高溫溫度：50℃
試驗(yàn)周期：1，2，6d。